۲۹-۲۸ آبان: نخستین سمینار فن‌آوری‌های نوین در آب شیرین کن‌ها

اولین سمینار فن‌آوری‌های نوین در آب شیرین‌کن ها با حضور ‌٣٠٠ تن از متخصصان و پژوهشگران داخلی و خارجی، ‌٢٨ و ‌٢٩ آبان ماه توسط پژوهشکده مهندسی آب دانشگاه تربیت مدرس در سالن برق آلستوم نیروگاه طرشت برگزار می‌شود. به گزارش سرویس «علمی» خبرگزاری دانشجویان ایران(ایسنا)، دکتر کورش محمدی، دبیر اجرایی سمینار هدف از برگزاری سمینار را بحث و تبادل نظر در زمینه روش‌های مربوط به شیرین کردن آب، آشنایی با تجهیزات و تاسیسات آب شیرین کن‌ها در ایران و کشورهای جهان و تعامل بخش صنعت و دانشگاه ذکر کرد. محمدی گفت: با توجه شرایط اقلیمی ایران، وضعیت فعلی تامین و مصرف و افزایش تقاضای آب شیرین کن به خصوص در مناطق جنوبی و مرکزی ایران و همچنین استفاده از تکنولوژی‌های نوین برای تامین آب از مناطق کشور که از ضروریات کشور می‌باشد، سعی شده محیطی فراهم شود تا آخرین دستاوردها و پیشرفت‌های صورت گرفته در این زمینه در سطح جهان وارد کشور شود و این فن‌آوری‌ها را بین افراد علمی و صنعتی گسترش دهیم. به همین دلیل کارهایی در زمینه این فن‌آوری درکشور شروع شده و این سمینار بستری برای آشنایی متخصصان و تولید کنندگان ایرانی با فن‌آوری‌های کشورهای دنیا است. دبیر اجرایی سمینار فن‌آوری‌های نوین در آب شیرین کن‌ها اضافه کرد: از موضوعات مورد بحث در این سمینار بررسی روند فعلی و آتی صنعت آب شیرین کن‌ها، فرایندهای نوین پیش تصفیه آب و اثرات زیست محیطی، ‌واحدهای آب شیرین کن، تجارب بهره برداری از واحدهای آب شیرین کن، طرح و توسعه و خصوصی سازی و بهبود و نوسازی سامانه‌های آب شیرین کن می‌باشد. محمدی اشاره کرد: این سمینار با همکاری انجمن بین المللی شیرین سازی آب، شرکت مهندسی آب و فاضلاب کشور، شرکت مدیریت منابع آب کشور و پژوهشکده مهندسی آب دانشگاه تربیت مدرس برگزار می‌شود همچنین از مخاطبان این سمینار متخصصان، پژوهشگران، دانشجویان، مدیران، مهندسان مشاور، سازندگان و پیمانکاران مرتبط با فن‌آوری‌ آب شیرین کن‌ها می‌باشند. وی گفت: از برنامه‌های جنبی سمینار، برگزاری نمایشگاهی است که شرکت کنندگان در آن می‌توانند محصولات و خدمات مرتبط با صنعت آب و فاضلاب را به نمایش بگذارند. محمدی دبیر اجرایی سمینار در پایان گفت: ‌تعداد ‌١٨ مقاله دریافت شده که در قالب سخنرانی در ایام برگزاری سمینار ارائه می‌شود که تعدادی از این سخنرانان از کشورهایی چون فرانسه، آمریکا، ژاپن، ایتالیا و لبنان می‌باشند. گفتنی است، علاقمندان جهت کسب اطلاعات و شرکت در سمینار می‌توانند به سایت www.modares.ac.ir/ds2006 و یا با شماره تلفن ‌[phone] داخلی ‌٣٩٩٨ تماس بگیرند. زمان درج خبر : 7 آبان 1385 / 11:26

ساخت اولین دستگاه مرجع آزمایشگاهی کنتور

اولین دستگاه تست آزمایشگاهی کنتور با قابلیت تست کنتورهای الکترومکانیکی و الکترونیکی در شرکت توزیع نیروی برق شمالشرق ساخته و در تمامی مناطق تابعه شرکت مورد استفاده قرار گرفت. به گزارش خبرنگار پایگاه خبری برق تهران، با توجه به روند روبه رشد استفاده از کنتورهای الکترونیکی در شبکه‌های توزیع، بکارگیری دستگاه تست مرجع آزمایشگاهی جهت بررسی و تعیین درصد خطای کنتورها در شرکت های توزیع مورد نیاز می باشد. این دستگاه بنا به سفارش شرکت توزیع نیروی برق شمالشرق تهران و با همکاری شرکت فنی و مهندسی طرح آزمایان قزوین و کارشناس لوازم اندازه‌گیری امور مهندسی و نظارت بر بهره برداری توزیع شمالشرق طراحی و راه اندازی شده است. از مزایای این دستگاه،‌ امکان تست کنتورهای الکترونیکی با اتصالات استاندارد به صورت سوکتی (ANSI) و مجزا می‌باشد. بنا به اظهار مهندس کاوه ضیاء بخش، کارشناس لوازم اندازه‌گیری شرکت توزیع برق شمالشرق، در آینده تمامی مراحل آزمایش کنتورها در آزمایشگاه مناطق شرکت توسط دستگاه مزبور صورت پذیرفته و امکان گزارشگیری نرم افزاری از نتایج حاصل از تست نیز امکانپذیر خواهد بود. زمان درج خبر : 7 آبان 1385 / 13:30

۹-۷ فروردین ۸۶ کنفرانس بین المللی مترولوژی در نانوالکترونیک

International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics NIST Red Auditorium 100 Bureau Drive Gaithersburg, MD 20899 March 27-29, 2007

Sponsors: National Institute of Standards and Technology (NIST), Sematech, Semiconductor International, National Science Foundation, SEMI, Semiconductor Research Corp. Audience: Scientists and engineers from industry, government, and academia interested in semiconductor metrology for nanoelectronics. Format: Formal invited presentation sessions and poster sessions. Purpose: This conference represents a paradigm shift from the previous conferences in that our emphasis is on frontiers and innovation in characterization and metrology. Our goal is to bring together scientists & engineers interested in all aspects of the technology & characterization techniques for nanoelectronic materials & device research, development, manufacturing, and diagnostics. Topics: Metrology for Nanoelectronics Materials & Devices; Ultra-Shallow Junctions; Dopant Concentrations; Alternate State Devices; Alternative Gate Dielectrics; Thin-Film Nano-Metrology; Interconnects and Barrier Layers; Etch Damage at the Nanoscale; Nanoscale Stress; Nano-Lithography and Bottlenecks; Role of Defects in Nanoelectronics; Nano-Manufacturing and Challenges; Nano-Diagnostics; In-Situ, Real-Time Nano-Control and Monitoring; Integrated Metrology; Critical Analytical Techniques; Novel Measurement Methods, Breakthroughs at the Nanoscale; Contamination, Detection, and Identification; Modeling/Simulation; Nano-Fab Metrology; MEMS/NEMS Metrology Applications; 300 mm Metrology. Technical Contact: David G. Seiler, NIST, Gaitherburg, MD, phone: [phone], e-mail: David G. Seiler Erik Secula, NIST, Gaitherburg, MD, phone: [phone], e-mail: Erik Secula Lori Guariglia, NIST, Gaitherburg, MD, phone: [phone], e-mail: Lori Guariglia Website: www.eeel.nist.gov/812/conference/ Accommodations: A limited block of rooms is reserved at the Gaithersburg Marriott Washingtonian Center, Gaithersburg, Maryland. The room rate will be the prevailing government rate at the time of the conference (approximately $180 plus applicable taxes per night). Reservations must be made by March 8, 2007, to guarantee a room. Rooms at this special rate are available only on a first-come, first-serve basis, so make your reservation early! The phone number for reservations is [phone]. Be sure to idenfity yourself as being with the Frontiers for Nanoelectronics Conference to ensure you receive the reduced rate.